光电测试

光电性能测试办理流程需求确认:明确测试对象（如LED、OLE D.
选择实验室:优先选择具备CNAS/CMA资质的第三方检测机构（如质海检测、奇点检测）.
样品准备:提供3-6个完整样品（含包装及说明书）,部分测试需标注额定功率、光通量等参数.
Weitere Informationen:
报告获取:通过后出具中英文双语报告,支持电子/纸质版,有效期期年.
灯具安全电磁寿命检测 光电性能质检报告 第三方照明设备检测机构

光电性能测试方法核心项目:
光通量: 30 cm Durchmesser, 30 cm Durchmesser, 30 cm Durchmesser, 30 cm Durchmesser, 30 cm Durchmesser
色度参数: 依据CIE 1931标准,测量色坐标、显色指数（CRI≥80为合格）.
电学特性: Reduzierter Temperaturwert (Vf), IR-Wert < 10μA.
设备参考:
积分球光谱测试系统（如Ocean HDX）.
探针台设备（矽弼, 5万元）支持晶圆/芯片测试.
太阳光模拟器（广皓天，3.67万元）用于温度冲击测试.
矽弼 探针台设备 光电器件测试 电流噪声性能稳定

三箱冷热冲击试验箱适用于光电设备在温度冲击下的光学性能测试

注意事项测试前需预热设备分钟以上,避免环境光干扰.
出口欧盟需同步符合EN 62717或CE认证.

Verfahren zur Durchführung von Leistungstests für optoelektronische Geräte
Anforderungsbestätigung: Die Testobjekte (z. B. LEDs, OLEDs, Solarzellen usw.) und die Zielparameter (z. B. Lichtstrom, Farbkoordinaten, elektrische Eigenschaften usw.) müssen klar definiert werden.
Wählen Sie ein Labor: Priorität sollten unabhängige Prüfinstitute mit CNAS/CMA-Qualifikationen (wie z. B. Quality Sea Testing und Singularity Testing) haben.
Probenvorbereitung: Bitte stellen Sie 3-6 vollständige Proben (einschließlich Verpackung und Anleitung) bereit. Bei einigen Tests müssen Parameter wie Nennleistung und Lichtstrom angegeben werden.
Testdurchführung: Das Labor folgt Standardverfahren, wie z. B. der Ulbricht-Kugel-Spektroskopie, der verteilten Photometrie usw., mit einem typischen Zyklus von 1-2 Wochen.
Berichtserstellung: Nach Genehmigung wird ein zweisprachiger Bericht in Chinesisch und Englisch ausgestellt, der sowohl in elektronischer als auch in Papierform vorliegt und eine Gültigkeitsdauer von 1 Jahr hat.
Lampensicherheit, Prüfung der elektromagnetischen Lebensdauer, Prüfbericht zur fotoelektrischen Leistungsfähigkeit, unabhängige Prüforganisation für Beleuchtungsanlagen
optoelektronische Leistungsprüfmethode
Kernprojekt:
Lichtstrom: Verwenden Sie ein System aus Ulbricht-Kugel und Spektralradiometer (≥ 30 cm Durchmesser), um Selbstabsorptionsfehler zu eliminieren.
Farbartparameter: Gemäß der CIE-Norm von 1931 werden die Farbkoordinaten und der Farbwiedergabeindex (CRI ≥ 80 ist ausreichend) gemessen.
Elektrische Eigenschaften: Die mit der Vierleitermethode des Source-Meters gemessene Vorwärtsspannung (Vf) und der Rückwärtsstrom (Ir) sollten weniger als 10 μ A betragen.
Gerätereferenz:
Prüfsystem für die Integralkugelspektroskopie (wie z. B. Ocean HDF).
Die Prüfstationsausrüstung (Silizium Bi, 50000 Yuan) unterstützt Wafer-/Chip-Tests.
Der Sonnensimulator (Guanghao Tian, ​​36700 Yuan) wird für Temperaturschocktests verwendet.
Die aktuelle Rauschleistung der fotoelektrischen Bauelementprüfung der SiBi-Probenstation ist stabil.
Die Drei-Kammer-Thermoschockprüfkammer eignet sich für die Prüfung der optischen Leistungsfähigkeit optoelektronischer Geräte unter Temperaturschockbedingungen.
Vorsichtsmaßnahmen
Das Gerät sollte vor dem Test mindestens 30 Minuten vorgeheizt werden, um Störungen durch Umgebungslicht zu vermeiden.
Für den Export in die EU ist die gleichzeitige Einhaltung der Norm EN 62717 oder die CE-Zertifizierung erforderlich.